電(dian)源的(de)紋(wen)波(bo)測(ce)試有哪些註(zhu)意事項(xiang)？

目前(qian)電(dian)源普遍(bian)的(de)測(ce)試紋(wen)波(bo)的(de)方法為(wei)
1.采(cai)用同軸(zhou)線(xian)測(ce)試
2.使(shi)用紋(wen)波(bo)夾子(zi)夾(jia)探(tan)頭(tou)測(ce)試
3.使(shi)用探頭(tou)加地(di)線(xian)環測(ce)試的(de)方法。主(zhu)旨是使(shi)地線(xian)形成(cheng)的(de)環(huan)盡量小。
我司(si)以下測(ce)試方法。

1》 電(dian)源如何可以實(shi)現(xian)恒流功(gong)能(neng)？

 可以(yi)通(tong)過電(dian)壓信(xin)號(hao)調(tiao)壓的(de)電(dian)源均可以(yi)通(tong)過(guo)以下電(dian)路實(shi)現(xian)，實(shi)現(xian)原(yuan)理分別(bie)是通(tong)過(guo)精(jing)密(mi)電(dian)阻(zu)采(cai)樣電(dian)流和IC采(cai)樣電(dian)流。

 2》電(dian)源在進行耐壓(ya)測(ce)試時(shi)有(you)哪些註(zhu)意事項(xiang)？

 1.電(dian)源的(de)輸(shu)入端(duan)子(zi)、輸(shu)出(chu)端(duan)、應短路處(chu)理。若沒有(you)短路電(dian)源相(xiang)應端(duan)子(zi)，電(dian)源內部元件(jian)可(ke)能(neng)承受(shou)額(e)外分(fen)壓(ya)應力(li)並可能(neng)導(dao)致損(sun)壞(huai)。建(jian)議(yi)使(shi)用測(ce)試夾具(ju)，避免(mian)直接夾(jia)在電(dian)源端(duan)子(zi)上(shang)做(zuo)絕緣(yuan)耐(nai)壓測(ce)試。
2.為了(le)電(dian)磁兼容要(yao)求(qiu)，電(dian)源內部至(zhi)機(ji)殼(ke)之(zhi)間(jian)存(cun)在濾(lv)波(bo)電(dian)容，其(qi)在耐壓測(ce)試期(qi)間(jian)會(hui)流過交流漏(lou)電(dian)流。如果測(ce)試不(bu)過，請(qing)檢查(zha)耐壓(ya)測(ce)試時(shi)儀(yi)器漏(lou)電(dian)流限值是否(fou)過(guo)小。
3.從(cong)額定(ding)測(ce)試電(dian)壓的(de)半(ban)開啟(qi)耐壓測(ce)試儀，然(ran)後緩(huan)慢(man)加(jia)壓(ya)至(zhi)額(e)定(ding)測(ce)試電(dian)壓。
4.如果電(dian)壓內部有(you)防雷（浪(lang)湧沖(chong)擊)電(dian)路,需(xu)在測(ce)試時(shi)斷(duan)開。