引言

　　監測(ce)用電(dian)量已(yi)經(jing)成(cheng)為(wei)工(gong)業(ye)和(he)商業(ye)領域(yu)內(nei)管(guan)理(li)電(dian)力裝(zhuang)置(zhi)的關鍵要(yao)素，例(li)如(ru)制造(zao)廠、數據(ju)中心(xin)、食品加(jia)工業(ye)、零售業(ye)、或(huo)教育(yu)機構。LEM在3年前向市場推出了(le)Wi-LEM系統(tong)，該(gai)系統采(cai)用(yong)無線(xian)輔助(zhu)計量(liang)組件EMN，等(deng)間(jian)隔(ge)動態測(ce)量用電(dian)情(qing)況(kuang)（照明、HVAC、電(dian)機、加(jia)熱(re)設(she)備等(deng)）。當(dang)初看來(lai)其測(ce)量範圍足(zu)夠寬(kuan)，計量(liang)範圍(wei)達100A。然(ran)而很(hen)快(kuai)就(jiu)發(fa)現，這(zhe)個(ge)測(ce)量範圍遠遠不能工業(ye)或(huo)負(fu)荷(he)用電(dian)領域(yu)的測(ce)量需求(qiu)，能(neng)量監測(ce)通常從(cong)測(ce)量能量輸入(ru)端的總消耗著(zhe)手－這(zhe)需(xu)要(yao)2000A的量(liang)程，而當(dang)初開發(fa)時忽(hu)略(lve)了(le)這(zhe)點。

　　因(yin)而(er)，LEM開發(fa)出了(le)適(shi)用(yong)於這(zhe)些(xie)EMN裝(zhuang)置(zhi)的RT系(xi)列(lie)電(dian)流(liu)傳感器，這(zhe)種(zhong)傳感器在安裝(zhuang)靈(ling)活方面(mian)，與較(jiao)低測(ce)量範圍的開口鐵芯(xin)電(dian)流(liu)互(hu)感器相當(dang)，但(dan)是測(ce)量卻能(neng)達到(dao)輔助(zhu)計量(liang)領域(yu)需(xu)要(yao)的1。Rogowski線(xian)圈(quan)很久(jiu)以前就因(yin)安(an)裝(zhuang)方(fang)便(bian)而(er)聞(wen)名(ming)，只(zhi)要(yao)克服(fu)了它(ta)的主(zhu)要(yao)缺(que)陷(xian)——對環路(lu)內(nei)導體(ti)位(wei)置(zhi)的敏(min)感所(suo)導致的誤差，它(ta)就(jiu)能(neng)提(ti)供(gong)合(he)適的解(jie)決方案。

RT系(xi)列Rogowski線(xian)圈電(dian)流(liu)傳感器

　　從(cong)理(li)論到(dao)實(shi)踐(jian)

　　在這(zhe)裏(li)先簡單(dan)說明(ming)下(xia)Rogowski線圈(quan)的原理(li)（“Die Messung der magnetischen Spannung”，Archiv für Elektrotechnik，1912）。Rogowski線圈(quan)是種(zhong)自(zi)閉式(shi)線圈繞組，和(he)螺(luo)旋形(xing)電(dian)流(liu)強度互(hu)感器樣纏繞在待測(ce)導體(ti)上(shang)，*卻重要(yao)的區(qu)別是它(ta)沒(mei)有(you)磁芯(xin)。這(zhe)種(zhong)線圈(quan)仍然(ran)采用(yong)了(le)安(an)培定律(lv)，不過方(fang)程式(shi)略(lve)有(you)不同，因(yin)為我們發(fa)現傳感器輸出(chu)端的電(dian)壓並(bing)不(bu)是(shi)與初電(dian)流(liu)成(cheng)正(zheng)比(bi)，而(er)是(shi)與(yu)它(ta)的導(dao)數(shu)成正(zheng)比(bi)：U= M*di/dt。M是(shi)初導體(ti)與(yu)線(xian)圈之間(jian)的互(hu)感系數，在某種(zhong)程度上(shang)體(ti)現(xian)了(le)初和(he)次(ci)環路(lu)之間(jian)的耦(ou)合情(qing)況(kuang)。基於這(zhe)個(ge)原理(li)獲(huo)取(qu)良好(hao)的難度在於，該(gai)方程式(shi)的簡(jian)化(hua)解(jie)析(xi)表(biao)達式(shi)假定線(xian)圈(quan)對稱（M必(bi)須(xu)恒(heng)定(ding)）。而(er)實(shi)際(ji)上(shang)這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)*可能，我(wo)們(men)將通過分析(xi)導(dao)致M成(cheng)為(wei)變(bian)量的3個(ge)關鍵因素(su)來進行(xing)說(shuo)明。

　　匝(za)數密度：線(xian)圈(quan)繞組必須(xu)均(jun)勻(yun)以(yi)繞組密度致。匝(za)數不(bu)等(deng)距導致結(jie)構(gou)不對稱(cheng)，即導致互(hu)感系數M隨初導體(ti)位(wei)置(zhi)的變(bian)化(hua)而(er)變(bian)化(hua)。這(zhe)樣就產生(sheng)了(le)源(yuan)於(yu)待測(ce)電(dian)纜或(huo)母線(xian)位置(zhi)的實(shi)際(ji)誤差，對於(yu)匝(za)數密度不(bu)同(tong)於平均(jun)分布(bu)值的線(xian)圈(quan)段，導(dao)體(ti)與(yu)其(qi)距離(li)越小(xiao)，這(zhe)種(zhong)誤差就越大(da)。

　　線圈(quan)橫(heng)截(jie)面(mian)：與匝(za)數密度樣，如(ru)果纏繞在導體(ti)上(shang)的整(zheng)個(ge)線圈(quan)的橫(heng)截(jie)面(mian)不致，則互感系數M也將不恒(heng)定(ding)，導(dao)體(ti)位(wei)置(zhi)變(bian)化(hua)同(tong)樣會(hui)產生(sheng)誤差。同樣，在這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)下(xia)，對於(yu)橫(heng)截(jie)面(mian)明顯不同於(yu)平(ping)均(jun)分布(bu)值的線(xian)圈(quan)段，導(dao)體(ti)與(yu)其(qi)距離(li)越小(xiao)，這(zhe)種(zhong)誤差就越大(da)。

　　線圈(quan)卡(ka)環：柔Rogowski線(xian)圈的主(zhu)要(yao)優勢是，它(ta)能(neng)提(ti)供(gong)無需(xu)電(dian)氣連接(jie)的末(mo)端(duan)，反饋(kui)信(xin)號(hao)通過線(xian)圈內(nei)回繞的金屬(shu)絲(si)傳回。而這(zhe)正(zheng)是(shi)線(xian)圈(quan)繞組內不(bu)連續(xu)所(suo)致的不(bu)對(dui)稱的主(zhu)要(yao)原因(yin)，進而(er)影(ying)響匝(za)數密度，因(yin)為(wei)理(li)論上(shang)需(xu)要(yao)線圈(quan)連續(xu)和(he)均(jun)質(zhi)。這(zhe)是(shi)尤為關鍵的因(yin)素(su)，產生(sheng)的誤差也zui大(da)。

　　實(shi)際(ji)數據：

　　截(jie)止(zhi)目前，Rogowski線圈(quan)提(ti)供(gong)的*位(wei)置(zhi)誤差為2％。除此(ci)以外，在大(da)多數情(qing)況(kuang)下(xia)還(hai)存在局(ju)限(xian)，它(ta)不(bu)包(bao)括(kuo)環路(lu)內(nei)某些區(qu)域(yu)的導(dao)體(ti)，尤其是卡(ka)環前端閉合(he)處。實(shi)際(ji)上(shang)這(zhe)可(ke)能(neng)致命(ming)，它(ta)導(dao)致卡(ka)環前端附(fu)近(jin)的誤差約達6％。因(yin)此，很(hen)理(li)解(jie)能(neng)源(yuan)計量(liang)設備制造(zao)商總是避免采用這(zhe)種(zhong)。然(ran)而，LEM認識到(dao)這(zhe)種(zhong)對於(yu)能源測(ce)量的可(ke)用(yong)價值，但(dan)是關鍵取(qu)決於他們是(shi)否能(neng)制造(zao)出zui低位置(zhi)誤差小於(yu) 0.75％的線(xian)圈(quan)。事(shi)實(shi)上(shang)，要(yao)開發(fa)出1能(neng)量(liang)計，就(jiu)得實(shi)現(xian)整個測(ce)量鏈的整(zheng)體(ti)於(yu)1％，測(ce)量鏈包括(kuo)電(dian)流(liu)傳感器、電(dian)壓傳感器及(ji)信(xin)號(hao)處理(li)。

　　環路(lu)內(nei)導體(ti)位(wei)置(zhi)導(dao)致的測(ce)量誤差：傳統Rogowski線(xian)圈對(dui)比(bi)LEM RT

　　LEM面(mian)臨(lin)的挑(tiao)戰(zhan)

　　近(jin)100年來(lai)直(zhi)尋求(qiu)基(ji)於電(dian)氣或(huo)機械(xie)理(li)念(nian)的多重解(jie)決方案，用(yong)以解(jie)決Rogowski線圈電(dian)流(liu)傳感器的主(zhu)要(yao)問題，即不完善(shan)的傳感器閉合(he)所(suo)導致的誤差，盡管(guan)成(cheng)效有限(xian)。LEM工(gong)程師考慮(lv)到(dao)這(zhe)種(zhong)情(qing)況(kuang)，決定深入地(di)重新(xin)探(tan)討這(zhe)個(ge)原理(li)，以便(bian)好(hao)地理(li)解(jie)這(zhe)些(xie)嘗(chang)試(shi)的失(shi)敗(bai)原因(yin)。我們(men)采用了(le)的方(fang)法成(cheng)功(gong)－線(xian)圈卡(ka)環導致的誤差已經(jing)變(bian)得幾乎可(ke)以忽(hu)略(lve)不(bu)計。理(li)所(suo)當然(ran)，這(zhe)個(ge)科(ke)學(xue)理(li)念(nian)在2007年申(shen)請了。

傳感器頭卡(ka)環采用“磁套(tao)筒(tong)”

　　隱藏挑戰

　　當分裂(lie)鐵芯(xin)Rogowski線(xian)圈的主(zhu)要(yao)問題zui終(zhong)得到(dao)解(jie)決時，其他問(wen)題又浮出(chu)水面(mian)。以前與線(xian)圈(quan)卡(ka)環系統設計有(you)關的誤差占據(ju)如(ru)此重要(yao)的地(di)位(wei)，以至(zhi)於(yu)它(ta)在某種(zhong)程度上(shang)掩蓋(gai)了其他(ta)不對(dui)稱原因(yin)。LEM繼續(xu)努力(li)工(gong)作以改(gai)善(shan)這(zhe)種(zhong)電(dian)流(liu)傳感器，經(jing)過整(zheng)整2年(nian)的開發(fa)，LEM已經(jing)能(neng)夠開發(fa)顯著(zhu)減(jian)小對稱缺(que)陷(xian)的工(gong)藝(yi)和(he)方法。

　　結(jie)果

　　下(xia)圖將LEM的分裂(lie)鐵芯(xin)Rogowski線(xian)圈與市面(mian)上(shang)其(qi)他基(ji)於(yu)這(zhe)種(zhong)的產(chan)品(pin)的進行(xing)了(le)對比(bi)，從(cong)中可(ke)以看(kan)出LEM在這(zhe)方(fang)面(mian)已經(jing)能(neng)夠取(qu)得的進步(bu)。

　　環路(lu)內(nei)導體(ti)位(wei)置(zhi)導(dao)致的測(ce)量誤差：

　　LEM RT傳感器與傳統Rogowski線(xian)圈對(dui)比(bi)

　　如(ru)今(jin)確定，對(dui)於15mm直(zhi)徑的導(dao)體(ti)，無論導(dao)體(ti)位(wei)置(zhi)如(ru)何，即使它(ta)位(wei)於(yu)線(xian)圈卡(ka)環附(fu)近(jin)，其位(wei)置(zhi)導(dao)致的誤差也不(bu)會(hui)過測(ce)量值的0.65％。

　　為(wei)了(le)好(hao)地評定(ding)取(qu)得的結(jie)果(guo)，用另副(fu)圖(tu)顯(xian)示(shi)了210件 RT Rogowski線圈(quan)樣品的zui大(da)誤差值。對(dui)於LEM傳感器，常規(gui)位(wei)置(zhi)誤差值為(wei)測(ce)量值的0.31％。

　　210件(jian)RT傳感器樣品的zui大(da)位置(zhi)誤差分布(bu)圖

　　我(wo)們還(hai)應該(gai)了解(jie)的Rogowski線(xian)圈(quan)傳感器信息。

　　外部(bu)導(dao)體(ti)

　　通常用(yong)待(dai)測(ce)導體(ti)位(wei)置(zhi)誤差來表(biao)示(shi)Rogowski線圈的能(neng)，但(dan)是好(hao)的傳感器必須(xu)還(hai)保持不(bu)受附(fu)近(jin)其他(ta)外部(bu)導(dao)體(ti)的幹(gan)擾(rao)。當兩種(zhong)特之間(jian)存在關系時，對(dui)於這(zhe)兩種(zhong)特來說 ，都(dou)是(shi)環路(lu)越完善(shan)越好(hao)。這(zhe)是(shi)安(an)培(pei)定(ding)律的結(jie)果(guo)，與形(xing)式(shi)的不(bu)對(dui)稱相關的誤差都(dou)會(hui)在環路(lu)內(nei)部和(he)外部(bu)產(chan)生影響。例(li)如(ru)，我們取(qu)個(ge)施(shi)加(jia)有(you) 100A電(dian)流(liu)的導(dao)體(ti)，將該(gai)導體(ti)放(fang)置(zhi)在Rogowski線圈(quan)內(nei)，使其與段(duan)產生(sheng)+0.5％的誤差的環路(lu)接(jie)觸。這(zhe)樣得到(dao)的測(ce)量結果為100.。讓同(tong)導體(ti)接(jie)觸(chu)同段(duan)環路(lu)，但(dan)是在環路(lu)外，同(tong)樣會(hui)產生(sheng)0.的誤差，但是(shi)會(hui)疊加(jia)到(dao)環路(lu)內(nei)測(ce)得的電(dian)流(liu)上(shang)，這(zhe)是(shi)因(yin)為(wei)外部(bu)磁場抗擾。

　　通常，Rogowski線(xian)圈(quan)傳感器的低，因為它(ta)們(men)的增(zeng)益(yi)（用術(shu)語M表示）取(qu)決於大(da)規(gui)模(mo)生產(chan)過程中難以的物理(li)參(can)數(shu)。簡(jian)而(er)言之，試(shi)圖(tu)制造(zao)增益色散(san)小於幾個百(bai)分點（比(bi)方(fang)說(shuo)2-5％，具體(ti)取(qu)決於采用的）的傳感器是不現(xian)實(shi)的。這(zhe)就(jiu)意味著(zhe)，設計的線(xian)圈(quan)繞線(xian)機的節(jie)距必須(xu)被(bei)在微(wei)米，並(bing)能(neng)生(sheng)產同(tong)等的線(xian)圈(quan)底座(zuo)。因(yin)此(ci)習慣上(shang)將Rogowski線圈連接(jie)到(dao)有源(yuan)或(huo)無源(yuan)電(dian)路(lu)，這(zhe)樣它(ta)就(jiu)能(neng)得到(dao)校準，從(cong)而獲(huo)得良好(hao)的。

　　另方(fang)面(mian)，必須(xu)傳感器特的傑出穩(wen)定(ding)，尤其是溫(wen)度方(fang)面(mian)，以防不(bu)得不通過再(zai)校準對(dui)使用條(tiao)件(jian)改(gai)變(bian)進行(xing)補償(chang)來(lai)得到(dao)校正的漂移(yi)。例(li)如(ru)，LEM的RT系(xi)列(lie)在這(zhe)方(fang)面(mian)的已(yi)經(jing)得到(dao)驗證，為(wei)30 ppm/°C。

　　沒有測(ce)量！

　　當確定測(ce)量系統時，常常(chang)出現(xian)這(zhe)樣個問題：如(ru)果電(dian)流(liu)過其(qi)標稱值，則傳感器會(hui)飽和(he)嗎？當然(ran)，當采(cai)用(yong)Rogowski線(xian)圈時，這(zhe)個(ge)問(wen)題的答案是(shi)“不”，因(yin)為這(zhe)種(zhong)線圈(quan)沒有磁芯(xin)，因此不(bu)會(hui)飽和(he)。理(li)論上(shang)，可(ke)測(ce)電(dian)流(liu)沒(mei)有(you)！實(shi)際(ji)上(shang)，閉合(he)環路(lu)的直(zhi)徑決定了電(dian)流(liu)的標稱值，與(yu)測(ce)量範圍無關 ，與初導體(ti)的規(gui)格(ge)相關。在di/dt（脈(mai)沖）的特定情(qing)況(kuang)下(xia)，電(dian)流(liu)限(xian)值由(you)線圈末(mo)端(duan)產生(sheng)的電(dian)壓確(que)定(ding)。

　　線(xian)度

　　當(dang)然(ran)，對於(yu)打(da)算(suan)用於測(ce)量的傳感器來說，線(xian)度很(hen)重要(yao)。同樣，因為Rogowski線(xian)圈(quan)不(bu)存在飽和(he)，因此(ci)線度不(bu)可(ke)能不足(zu)，因(yin)為(wei)這(zhe)種(zhong)線圈(quan)在這(zhe)方(fang)面(mian)具有先天(tian)優勢。如(ru)果仍然(ran)發(fa)現線(xian)度不(bu)足(zu)，則必須(xu)質疑測(ce)量方法是(shi)否正(zheng)確以及(ji)是(shi)否是(shi)Rogowski線圈！

　　相移(yi)

　　相移(yi)是(shi)能源測(ce)量領域其重要(yao)的參(can)數(shu)，利(li)用(yong)電(dian)流(liu)及(ji)電(dian)壓測(ce)量結果計算(suan)得出。與(yu)飽和(he)度和(he)線度方(fang)面(mian)的表(biao)現(xian)樣，Rogowski線圈在相位(wei)方(fang)面(mian)的表(biao)現(xian)同樣，也就(jiu)是(shi)它(ta)不(bu)會(hui)導致相移(yi)。然(ran)而，值得記(ji)住(zhu)的是(shi)，它(ta)與(yu)自(zi)身(shen)會(hui)產生(sheng)相移(yi)的放(fang)大(da)（下(xia)文標題 “積分器(qi)”下(xia)所(suo)述）相關。綜(zong)上(shang)所(suo)述，沒有(you)連接(jie)線圈時，相位(wei)誤差本(ben)質為(wei)零，但連接(jie)負(fu)載(zai)後(hou)就(jiu)能(neng)達到(dao)較(jiao)值。不(bu)過，這(zhe)種(zhong)誤差能夠通過等(deng)效RLC電(dian)路(lu)計算(suan)或(huo)模擬(ni)輕松量化(hua)，以(yi)及(ji)通過特別方法得到(dao)補償(chang)。

　　LEM的選(xuan)擇(ze)

　　如(ru)今(jin)，Rogowski線圈傳感器可與能(neng)源(yuan)測(ce)量領域內的電(dian)流(liu)強度互(hu)感器抗衡。LEM需(xu)要(yao)zui大(da)程度地(di)挖掘(jue)這(zhe)種(zhong)的能(neng)，它(ta)們(men)在測(ce)量大(da)電(dian)流(liu)時(shi)能(neng)夠創(chuang)造(zao)凈(jing)利潤，即重量(liang)、整體(ti)尺寸(cun)、靈活和(he)易(yi)管(guan)理(li)，這(zhe)點變(bian)得明顯(xian) 。5mm的橫(heng)截(jie)面(mian)幾乎可(ke)被(bei)列(lie)為(wei)“常(chang)規(gui)”尺寸(cun)，當測(ce)量這(zhe)種(zhong)橫(heng)截(jie)面(mian)時，RT系列傳感器是市面(mian)上(shang)zui輕(qing)薄的Rogowski線(xian)圈(quan)傳感器。

　　EMN能量計安(an)裝(zhuang)電(dian)氣櫃內(nei)配(pei)有3個(ge)RT Rogowski線圈

　　線圈卡(ka)環裝(zhuang)置(zhi)（獲(huo)得）也小(xiao)巧(qiao)（28 x 30 x 16 mm），它(ta)能(neng)將環路(lu)可(ke)靠連接(jie)到(dao)其同(tong)軸(zhou)信(xin)號(hao)電(dian)纜上(shang)。這(zhe)裏(li)，同(tong)軸(zhou)電(dian)纜直接(jie)與(yu)線圈的小(xiao)截(jie)面(mian)相連。實(shi)際(ji)上(shang)，因(yin)為增(zeng)益(yi)與(yu)橫(heng)截(jie)面(mian)成正比(bi)，所(suo)以，精密線(xian)圈產生的電(dian)壓很(hen)小(xiao)，通過開始消(xiao)除環路(lu)與(yu)放大(da)之間(jian)的幹(gan)擾(rao)來信噪比(bi)，這(zhe)種(zhong)方式(shi)是適宜(yi)的。

　　zui後(hou)，為(wei)了(le)RT線(xian)圈在時間(jian)與(yu)溫(wen)度方(fang)面(mian)的穩(wen)定(ding)，采(cai)用(yong)LEM工程師開發(fa)的新(xin)穎(ying)工(gong)藝(yi)將線圈整合(he)到(dao)PU樹脂(zhi)內(nei)。這(zhe)種(zhong)纏繞還(hai)穩(wen)固(gu)維(wei)持不(bu)同部(bu)分以(yi)及(ji)提(ti)供(gong)裝(zhuang)配(pei)穩(wen)固(gu)，而(er)這(zhe)是(shi)難以安裝(zhuang)的場合所(suo)需的。

　　所(suo)以，選(xuan)擇(ze)電(dian)流(liu)互(hu)感器（CT）還(hai)是Rogowski線(xian)圈(quan)（RT）？LEM已經(jing)作出了(le)它(ta)的選(xuan)擇(ze)，但是(shi)準備與(yu)您(nin)分享！

　　應用說(shuo)明：Rogowski線圈(quan)積分器(qi)設(she)計

　　Rogowski線(xian)圈提(ti)供(gong)的電(dian)壓與(yu)其(qi)端(duan)子上(shang)產(chan)生的初電(dian)流(liu)的導(dao)數(shu)成正(zheng)比(bi)。因(yin)此(ci)必(bi)須(xu)利用(yong)電(dian)子積(ji)分器(qi)將這(zhe)種(zhong)信號(hao)轉(zhuan)換為(wei)與(yu)初電(dian)流(liu)值成(cheng)正比(bi)的信(xin)號(hao)。

　　積分器(qi)是(shi)采用Rogowski線(xian)圈進行(xing)電(dian)流(liu)測(ce)量的基(ji)本(ben)組件，放(fang)大(da)的放(fang)大(da)方式(shi)對傳感器的電(dian)氣能（線度、相移(yi)和(he)頻率(lv)帶寬(kuan)）有重大(da)影響(xiang)。下(xia)文列(lie)出了(le)此(ci)類(lei)積分器(qi)的關鍵因素(su)以及(ji)些(xie)可(ke)能(neng)的解(jie)決方案：

　　低的信(xin)號(hao)電(dian)平（例(li)如(ru)20 mV / kA ，LEM的RT系(xi)列(lie)傳感器）

　　→采用低的噪(zao)音OpAmp以(yi)優化(hua)信(xin)噪(zao)比(bi)

　　→必(bi)須(xu)設法使PCB表面(mian)積zui小，或(huo)盡可(ke)能(neng)放大(da)以降低對外部(bu)磁場的敏(min)感度。

　　低截(jie)止(zhi)頻率(lv)

　　當積(ji)分器(qi)連接(jie)到(dao)Rogowski線圈(quan)時(shi)，這(zhe)二者就(jiu)組成了(le)通濾(lv)波(bo)器(qi)。由(you)於(yu)它(ta)抑制低的頻(pin)率(lv)，因此(ci)必須(xu)定義截(jie)止(zhi)頻率(lv)，以便(bian)優化(hua)標稱工(gong)作頻率(lv)下(xia)的能(neng)，同(tong)時仍然(ran)獲(huo)取(qu)盡可(ke)能(neng)短(duan)的響(xiang)應時間(jian)。

　　失調抑制

　　純(chun)積(ji)分器(qi)的主(zhu)要(yao)問題在於，它(ta)會(hui)對zui微(wei)弱的寄生失調（例(li)如(ru)AmpOp導致的）積(ji)分，這(zhe)樣輸出(chu)就總是不穩(wen)定(ding)，遲(chi)早(zao)漂移(yi)到(dao)較(jiao)或(huo)較(jiao)低電(dian)平處飽和(he)。因此(ci)，必須(xu)采用(yong)靜態增益(yi)或(huo)有源(yuan)補償(chang)這(zhe)種(zhong)漂移(yi)：

　　總失調抑制

　　可(ke)以消除剩(sheng)余失調，只(zhi)需(xu)在積分器(qi)與(yu)測(ce)量之間(jian)添(tian)加個(ge)電(dian)容耦(ou)合裝(zhuang)置(zhi)：

　　相移(yi)

　　上(shang)文(wen)講述的失(shi)調(tiao)抑制電(dian)路(lu)會(hui)產生(sheng)幾度的相位(wei)角誤差 ，這(zhe)成(cheng)了(le)能(neng)量(liang)測(ce)量的主(zhu)要(yao)問題。因此，在這(zhe)種(zhong)應用場合，必須(xu)添加(jia)相移(yi)補償(chang)，它(ta)通常包(bao)含(han)個低通濾(lv)波(bo)器(qi)。不(bu)幸(xing)的是(shi)，這(zhe)種(zhong)校正並(bing)不(bu)恒(heng)定(ding)，而(er)是(shi)受(shou)頻率(lv)影響(xiang)，這(zhe)就(jiu)意味著(zhe)必須(xu)優化(hua)設(she)計以(yi)盡可(ke)能(neng)降低基頻相位(wei)差，基頻(pin)般(ban)為(wei)16 2/3、50、60或(huo)400 Hz。

　　校準：有(you)源(yuan)增益調(tiao)節(jie)

　　Rogowski線圈(quan)需要(yao)根據(ju)基準(zhun)信號校準，以(yi)便(bian)對(dui)其(qi)增(zeng)益(yi)進行(xing)微(wei)調，因(yin)為(wei)制造(zao)過程存在不可(ke)避免的缺(que)陷(xian)，從(cong)而導(dao)致線(xian)圈(quan)結構不(bu)可能(neng)。般(ban)而(er)言，工程師采(cai)用(yong)附(fu)加有(you)模擬(ni)裝(zhuang)置(zhi)的積(ji)分，例(li)如(ru)電(dian)位計。的數(shu)字(zi)校準解(jie)決方案與(yu)采用(yong)微(wei)器或(huo)結合(he)采用微(wei)器與(yu)PGA（可(ke)編(bian)程增益(yi) 放(fang)大(da)器）的方(fang)案差不多。在情(qing)況(kuang)下(xia)，每副(fu)Rogowski線圈(quan)的校準都(dou)是(shi)特定的，必(bi)須(xu)始終(zhong)采用(yong)以(yi)前校準采(cai)用(yong)的同(tong)電(dian)路(lu)。

　　校準：無源(yuan)增益調(tiao)節(jie)

　　縱觀(guan)過去(qu)，Rogowski線圈(quan)總是用於電(dian)流(liu)值（rms）測(ce)量，沒有相位(wei) 。許(xu)多環路(lu)都(dou)提(ti)供(gong)了(le)基於(yu)純(chun)電(dian)阻或(huo)電(dian)阻/電(dian)容電(dian)路(lu)（RC電(dian)路(lu)）的出(chu)廠(chang)校準。這(zhe)種(zhong)方法向簡單(dan)、經(jing)濟(ji)，但(dan)是(shi)不能用於(yu)能量測(ce)量，因為它(ta)產(chan)生(sheng)的相位(wei)誤差大(da)，同時(shi)它(ta)可(ke)能(neng)受(shou)頻率(lv)影響(xiang)（如(ru)果采用(yong)RC電(dian)路(lu)）。

　　LEM在開發(fa)Rogowski線圈(quan)時(shi)，旨在提(ti)供(gong)種(zhong)簡單(dan)通用的產(chan)品(pin)，確信(xin)積分器(qi)能(neng)夠獲(huo)取(qu)*能(neng)且是*的方(fang)法。因(yin)此，RT系列傳感器沒有開展出廠(chang)校準，無需(xu)采用另外的電(dian)子組件或(huo)機殼(ke)，也不(bu)需(xu)要(yao)供電(dian)電(dian)源。采(cai)用(yong)連接(jie)到(dao)Rogowski的裝(zhuang)置(zhi)的積(ji)分器(qi)，如(ru)能源、電(dian)源質(zhi)量(liang)或(huo)脈(mai)沖電(dian)源監(jian)控器，是種(zhong)經(jing)濟(ji)的解(jie)決方案。