更(geng)新時間(jian):2024-07-23
ITC2000-S/SP1和ITC4000-S系列(lie)電流(liu)傳(chuan)感器類(lei)誤(wu)差(cha)R(鐵路)電流(liu)測量(liang)4000A主要(yao)特點:測試電流(liu)4000A非(fei)線(xian)性(xing)測量(liang)閉環磁通門(men)測量(liang)範圍(wei):6000的(de)APK
| 品(pin)牌(pai) | LEM/萊姆(mu) | 應用(yong)領域(yu) | 石油(you),能源(yuan),電(dian)子/電(dian)池,電氣,綜合 |
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ITC2000-S/SP1和ITC4000-S系列(lie)電流(liu)傳(chuan)感器
類(lei)誤(wu)差(cha)R(鐵(tie)路)電流(liu)測量(liang)4000A
主(zhu)要特點:
測試電流(liu)4000A非(fei)線(xian)性(xing)測量(liang)
閉(bi)環磁通門(men)
測量(liang)範圍(wei):6000的(de)APK
整(zheng)體(ti)誤(wu)差(cha):+ / - 0.05% + 25 C°IPN
整(zheng)體(ti)誤(wu)差(cha)(+ 23°C):
電(dian)源:+ / - 21.6 + / - 26.4 V
工作(zuo)溫(wen)度(du)範圍(wei):-40~+85°C
模擬電(dian)流(liu)輸(shu)出(chu):0.8和1.6“IPN為2000和4000A
5年(nian)保修(xiu)
減(jian)小的尺(chi)寸(cun)和低(di)功(gong)率損(sun)耗(hao)


ITC2000-S/SP1和ITC4000-S系列(lie)電流(liu)傳(chuan)感器
等(deng)級(ji)誤(wu)差(cha) R(鐵(tie)路)電流(liu)測量(liang) 4000 ARMS 主(zhu)要特征(zheng): • 無(wu)創(chuang)測量(liang)高(gao)4000 ARMS 的(de)電流(liu) • 閉(bi)環磁通門(men) • 測量(liang)範圍(wei): 6000 ApK • 整(zheng)體(ti)誤(wu)差(cha):+25°C 時(shi) +/- 0.05 % 的(de) IPN
• 整(zheng)體(ti)誤(wu)差(cha) (+23°C): +/- 0.2% 讀數(shu) @ 10 % IPN +/- 0.4% 讀數(shu) @ 5 % IPN +/- 2% 讀數(shu) @ 1 % IPN • 電(dian)源:+/- 21.6 至(zhi) +/- 26.4 V • 工作(zuo)溫(wen)度(du)範圍(wei):-40 至(zhi) +85°C • 模擬電(dian)流(liu)輸(shu)出(chu):ITC 2000 和 4000 分(fen)別為 0.8 和 1.6 A @ IPN • 5 年(nian)保修(xiu) • 減(jian)小尺(chi)寸(cun)和低(di)功(gong)耗(hao) 特征(zheng):
• 直(zhi)流(liu)、交(jiao)流(liu)、脈(mai)沖(chong)電(dian)流(liu)精度(du)高(gao)測量(liang),電流(liu)絕(jue)緣(yuan)(絕(jue)緣(yuan)測試電壓:14 KVRMS / 50Hz / 1 分(fen)鐘) • ITC 2000 和 4000 的(de)孔(kong)徑(jing)分別(bie)為 63 毫(hao)米(mi)和 102 毫(hao)米(mi)直(zhi)徑(jing) • 電(dian)流(liu)消(xiao)耗低(di):ITC 2000 和 4000 的(de) IPN 分(fen)別為 150 mA 和 300 mA • 電(dian)流(liu)過(guo)載(zai):100kA/100ms • 快(kuai)速響應(ying)時(shi)間(jian):0.1µs • 大帶(dai)寬(kuan):80 KHz (3dB) • 溫(wen)漂(piao)低(di)
評論:
• 小電流(liu)消(xiao)耗技(ji)術 • 易(yi)於適應二(er)次連(lian)接(jie)的(de)模塊化(hua)方法 • 測試繞組作為自檢(jian)功(gong)能 • 作(zuo)為傳(chuan)感器狀(zhuang)態(tai)指示的邏(luo)輯(ji)附加(jia)輸(shu)出 • ITC 2000 建議(yi)采(cai)用(yong)分體(ti)式(shi)結構,測量(liang)頭在(zai)外殼中,測量(liang)電路(lu)遠(yuan)程(cheng)安(an)裝(zhuang)在(zai)金(jin)屬外殼中 |
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